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OPTEX CDX系列高精度雷射位移計3
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OPTEX CDX系列高精度雷射位移計

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OPTEX FASTUS CDX系列超高精度乙太網路連接雷射位移計

  • 開發影像感測器ATMOS
  • 世界第一的線性度+/-0.015% F.S.
  • 採樣週期12.5μs,傳統型號的1/8
  • 直接乙太網路連接並配備Web伺服器
類型 測量範圍 光斑尺寸 重複精度 線性 型號
漫射模式 鏡面反射模式
鏡面
反射
ø30 微米 0.25 微米 滿量程的 +/-0.05% (+/-1 μm) CDX-L15A
寬的 30×1000微米 CDX-LW15A

距離
ø30 微米 滿量程的 +/-0.03% (+/-3 μm) 滿量程的 +/-0.04% (+/-2.4 μm) CDX-30A
寬的 30×1000微米 滿量程的 +/-0.015% (+/-1.5 μm) CDX-W30A
中等
範圍
ø70 微米 測量範圍 65 至 85 毫米:
+/-0.018% FS(+/-7.2 μm)
測量。範圍 85 至 105 毫米:
滿量程的 +/-0.03%(+/-12.0 微米)

滿量程的+/-0.03%
(+/-6.0 μm)
CDX-85A
寬的 70×2000微米 滿量程的 +/-0.015% (+/-6.0 μm) CDX-W85A

遠端
ø120 微米 測量範圍 110 至 150 毫米:
+/-0.03% FS(+/-24 μm)
測量。範圍 150 至 190 毫米:
滿量程的 +/-0.04%(+/-32 微米)
CDX-150A
寬的 120×4000微米 滿量程的 +/-0.015% (+/-12 μm) CDX-W150A
1662203
附加檔案:
OPTEX_CDX型錄.pdf