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OPTEX CDX系列高精度雷射位移计3
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OPTEX CDX系列高精度雷射位移计

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OPTEX FASTUS CDX系列超高精度乙太网路连接雷射位移计

  • 开发影像感测器ATMOS
  • 世界第一的线性度+/-0.015% F.S.
  • 采样周期12.5μs,传统型号的1/8
  • 直接乙太网路连接并配备Web伺服器
类型 测量范围 光斑尺寸 重复精度 线性 型号
漫射模式 镜面反射模式
镜面
反射
ø30 微米 0.25 微米 满量程的 +/-0.05% (+/-1 μm) CDX-L15A
宽的 30×1000微米 CDX-LW15A

距离
ø30 微米 满量程的 +/-0.03% (+/-3 μm) 满量程的 +/-0.04% (+/-2.4 μm) CDX-30A
宽的 30×1000微米 满量程的 +/-0.015% (+/-1.5 μm) CDX-W30A
中等
范围
ø70 微米 测量范围 65 至 85 毫米:
+/-0.018% FS(+/-7.2 μm)
测量。范围 85 至 105 毫米:
满量程的 +/-0.03%(+/-12.0 微米)

满量程的+/-0.03%
(+/-6.0 μm)
CDX-85A
宽的 70×2000微米 满量程的 +/-0.015% (+/-6.0 μm) CDX-W85A

远端
ø120 微米 测量范围 110 至 150 毫米:
+/-0.03% FS(+/-24 μm)
测量。范围 150 至 190 毫米:
满量程的 +/-0.04%(+/-32 微米)
CDX-150A
宽的 120×4000微米 满量程的 +/-0.015% (+/-12 μm) CDX-W150A
1662203
附加档案:
OPTEX_CDX型录.pdf