OPTEX CDX系列高精度雷射位移计
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OPTEX FASTUS CDX系列超高精度乙太网路连接雷射位移计
- 开发影像感测器ATMOS
- 世界第一的线性度+/-0.015% F.S.
- 采样周期12.5μs,传统型号的1/8
- 直接乙太网路连接并配备Web伺服器
类型 | 测量范围 | 光斑尺寸 | 重复精度 | 线性 | 型号 | ||
---|---|---|---|---|---|---|---|
漫射模式 | 镜面反射模式 | ||||||
镜面 反射 |
点 |
![]() |
ø30 微米 | 0.25 微米 | — | 满量程的 +/-0.05% (+/-1 μm) | CDX-L15A |
宽的 | 30×1000微米 | CDX-LW15A | |||||
短 距离 |
点 |
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ø30 微米 | 满量程的 +/-0.03% (+/-3 μm) | 满量程的 +/-0.04% (+/-2.4 μm) | CDX-30A | |
宽的 | 30×1000微米 | 满量程的 +/-0.015% (+/-1.5 μm) | CDX-W30A | ||||
中等 范围 |
点 |
![]() |
ø70 微米 | 测量范围 65 至 85 毫米: +/-0.018% FS(+/-7.2 μm) 测量。范围 85 至 105 毫米: 满量程的 +/-0.03%(+/-12.0 微米) |
满量程的+/-0.03% (+/-6.0 μm) |
CDX-85A | |
宽的 | 70×2000微米 | 满量程的 +/-0.015% (+/-6.0 μm) | CDX-W85A | ||||
远端 |
点 |
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ø120 微米 | 测量范围 110 至 150 毫米: +/-0.03% FS(+/-24 μm) 测量。范围 150 至 190 毫米: 满量程的 +/-0.04%(+/-32 微米) |
— | CDX-150A | |
宽的 | 120×4000微米 | 满量程的 +/-0.015% (+/-12 μm) | CDX-W150A |